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美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 俄歇能譜儀 ELS3000 俄歇電子能譜（Auger electron spectroscopy，簡(jiǎn)稱AES），是一種利用高能電子束為激發(fā)源的表面科學(xué)和材料科學(xué)的分析技術(shù)。
LK-TECHNOLOGIES 低能電子衍射儀(LEED)-RVL2000 的精密反向LEED低能電子衍射儀光學(xué)元件采用所有UHV結(jié)構(gòu)，無(wú)需使用玻璃纖維或聚合物涂層線束。提供完整系列的型號(hào)和選件，包括低電流（nA，pA）MCP型號(hào)。
美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀在分辨率和信號(hào)水平方面表的
美國(guó)QUEST(QI2)乙烯爐管檢測(cè)LOTIS® QC-80，非接觸式測(cè)量系統(tǒng) 使用*非接觸式激光光學(xué)三角測(cè)量，可為管狀結(jié)構(gòu)提供快速掃描和高分辨率數(shù)據(jù)。在一次掃描中，我們的專有軟件自動(dòng)準(zhǔn)確地定位尺寸質(zhì)量以及表面缺陷。
美國(guó)QUEST(QI2)螺紋測(cè)量系統(tǒng)LOTIS ® QC-X，非接觸式測(cè)量系統(tǒng)，非接觸式測(cè)量系統(tǒng)使用包含在一臺(tái)便攜式設(shè)備中的快速、非接觸式激光掃描。
美國(guó)QUEST(QI2)非接觸式測(cè)量定子檢測(cè)系統(tǒng)-LOTIS® QC-40，提供價(jià)值鏈；對(duì)于制造或翻新中心的質(zhì)量控制，到鉆井平臺(tái)上的檢查員，在那里做出關(guān)鍵的“通過(guò)/不通過(guò)”決策。
美國(guó)QUEST(QI2)非接觸式軟管測(cè)量系統(tǒng)-LOTIS® QC-20 可用于軟管檢測(cè)的最快、最準(zhǔn)確的非接觸式測(cè)量系統(tǒng)。由于 QC-20 的精確、同步測(cè)量幾乎消除了操作員錯(cuò)誤，該測(cè)量在測(cè)量尺寸時(shí)不會(huì)產(chǎn)生產(chǎn)品變形。
